ED300型渦流測厚儀，用于檢測各種非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。例如：鋁型材、鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁工件表面的陽極氧化層或涂層。儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施工現(xiàn)場對產(chǎn)品進(jìn)行快速無損的膜厚檢查。可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗和質(zhì)量監(jiān)督檢驗。

量程： 0～150μm；      精   度： ±3%；                     分辨率：0.1μm；

功耗： 0.06W；        外形尺寸： 150mm×80mm×30mm；        重  量： 280g。

* 膜厚校正片

 膜厚校正片是儀器的計量基準(zhǔn)。本儀器的膜厚校正片全部經(jīng)過技術(shù)監(jiān)督部門的檢測，附有檢測報告。這一點(diǎn)在國內(nèi)外儀器中都是不多見的。它保證了儀器計量的準(zhǔn)確性和可靠性。

* 探頭

 測厚儀zui容易損壞的部件是探頭，本儀器對探頭做了特殊的耐久性設(shè)計，具有防磕碰、防水、探頭線防折曲等防護(hù)功能。

* 探頭線

由于儀器使用頻率很高，探頭線成為易損件。一般國產(chǎn)儀器的探頭用不多久就會出現(xiàn)故障，多數(shù)問題出在探頭線上。

天星測厚儀使用的探頭線是在日本定做的。這種導(dǎo)線zui初用于機(jī)器人，規(guī)定可經(jīng)受幾百萬次的曲折。實(shí)踐證明，這種探頭線很少有因頻繁曲折而損壞的。

主機(jī)          1臺

膜厚校正片    1套 （4片）

校正基體      1塊

儀器箱        1個

膜厚校正片  （12μm25μm50μm100μm附檢測報告）

校正基體     6063鋁合金